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JESD22-A104 Cámara de ciclos de temperatura

Cámara de Ciclos de Temperatura JESD22-A104 para Pruebas de Confiabilidad de Semiconductores

LIB IndustryCámaras de ciclado térmico JESD22-A104están diseñadas para pruebas de confiabilidad de dispositivos semiconductores, componentes electrónicos, ensamblajes de PCB y electrónica automotriz. Las cámaras de ciclado térmico simulan tensiones térmicas repetidas para revelar fatiga de juntas de soldadura, grietas en encapsulados, delaminación y otros modos de falla antes de que los productos ingresen al mercado.

✔ 100 % compatible con las condiciones A–M de JESD22-A104
✔ Velocidades de rampa de temperatura de hasta 10 °C/min–15 °C/min
✔ Fluctuación de temperatura ≤ ±0.5 °C
✔ Uniformidad de temperatura ≤ ±2.0 °C
✔ Rango de temperatura de -70 °C a +150 °C

Cumpliendo con los requisitos de prueba de JESD22-A104, AEC-Q100 e IEC 60068-2-14, las cámaras LIB proporcionan ciclos térmicos precisos y repetibles para la calificación y validación de confiabilidad de semiconductores.


Modelos estándar: TR5-100, TR5-225, TR5-500, TR5-800, TR5-1000 y más modelos personalizados.

Cámara de ciclado térmico de LIB Industry para ensayos de fiabilidad según JEDEC JESD22-A104


Condiciones de prueba JESD22-A104 totalmente compatibles

Las cámaras de ciclado térmico de LIB Industry están diseñadas para soportar completamente los perfiles de temperatura especificados en JESD22-A104, permitiendo a los usuarios cambiar fácilmente entre diferentes condiciones de prueba según los requisitos del producto. Admite las condiciones A–M de JESD22-A104.

Condición

Temperatura baja

Temperatura alta

Aplicaciones típicas

A

-55°C (+0/-10°C)

+85°C (+10/-0°C)

Electrónica de consumo, circuitos integrados de grado comercial

B

-55°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Componentes industriales, electrónica automotriz general

C

-65°C (+0/-10°C)

+150°C (+10/-0°C)

Aeroespacial, militar, dispositivos semiconductores de alta fiabilidad

G

-40°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Electrónica automotriz (AEC-Q100 / AEC-Q200)

H

-55°C (+0/-10°C)

+175°C (+10/-0°C)

Semiconductores de potencia de alta temperatura y dispositivos electrónicos avanzados

La cámara de ciclado térmico admite perfiles de ciclado de temperatura programables con velocidades de rampa, tiempos de permanencia y conteos de ciclos personalizables. Los parámetros de prueba se pueden configurar para cumplir con los requisitos de JESD22-A104 según la masa del espécimen, la carga térmica y los objetivos de calificación.


¿Por qué elegir LIB Industry para pruebas JESD22-A104?

Amplio rango de temperatura

Rangos de temperatura disponibles:

  • -20°C a +150°C

  • -40°C a +150°C

  • -70°C a +150°C Adecuado para todas las condiciones de prueba JESD22-A104.

Control preciso de temperatura

  • Fluctuación de temperatura: ±0.5 °C

  • Desviación de temperatura: ±2.0 °C

  • Distribución uniforme del flujo de aire Garantiza que cada muestra experimente el mismo estrés térmico durante pruebas de larga duración.

Funcionamiento continuo fiable

Los programas de calificación de semiconductores a menudo requieren pruebas durante varias semanas.

Las cámaras LIB cuentan con:

  • Espacio de trabajo de acero inoxidable SUS304

  • Sistema de refrigeración industrial

  • Ventilador de circulación de larga duración

  • Capacidad de funcionamiento continuo Diseñada para pruebas de fiabilidad prolongadas sin interrupción.

Perfiles térmicos programables

El controlador de pantalla táctil permite a los usuarios crear perfiles de ciclado térmico personalizados, incluyendo:

  • Control de velocidad de rampa

  • Control del tiempo de permanencia

  • Conteo de ciclos

  • Funcionamiento automático

  • Registro de datos

temperature_cycle_chamber6_-_副本.jpg

Sala de pruebas de acero inoxidable

temperature_cycle_chamber8_-_副本.jpg

Sistema de refrigeración eficiente

temperature_cycle_chamber_-_副本.jpg

Puerto de acceso para cables sellado

temperature_cycle_chamber9_-_副本.jpg

Sistema de circulación de aire uniforme


Especificaciones de la cámara de ciclado térmico JESD22-A104

Modelo

TR5-100

TR5-225

TR5-500

TR5-800

TR5-1000

Dimensión interna (mm)

400*500*500

500*600*750

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000

Dimensión total (mm)

900*1050*1620

1000*1140*1870

1200*1340*2020

1300*1540*2120

1500*1540*2140

Volumen interior

100L

225L

500L

800L

1000L

Carga térmica

1000W

 

Rango de temperatura

A : -20℃ ~ +150 ℃

B : -40℃ ~ +150 ℃

C: -70℃ ~ +150 ℃

Fluctuación de temperatura

± 0.5 ℃

Desviación de temperatura

± 2.0 ℃

Velocidad de enfriamiento

10℃/min (15℃/min)

Velocidad de calentamiento

10℃/min (15℃/min)

Controlador

Controlador programable con pantalla táctil LCD a color, interfaz multilingüe, Ethernet, USB

Sistema de enfriamiento

Sistema de refrigeración por compresión mecánica

Material exterior

Placa de acero con recubrimiento protector

Material interior

Acero inoxidable SUS304

Suministro eléctrico

380V

Ruido máximo

65 dBA


Aplicaciones de ciclado térmico JESD22-A104

Las pruebas de ciclado térmico según JESD22-A104 se utilizan ampliamente en las industrias de semiconductores, automotriz y electrónica para evaluar la fiabilidad del producto bajo estrés térmico repetido.

Dispositivos semiconductores

BGA, QFN, CSP, IC packages

Electrónica automotriz

ECU, ADAS, sensors, BMS

Electrónica de potencia

IGBT, MOSFET, SiC devices, power converters

Sistemas electrónicos

Conjuntos de PCB, equipos de comunicación, electrónica industrial y de consumo

Todo el equipo de prueba de LIB está respaldado por unagarantía de 3 años y servicio técnico de por vidagarantizando fiabilidad a largo plazo y soporte posventa global.

Póngase en contacto con LIB Industry para la configuración adecuada para sus requisitos de JESD22-A104 orequisitos de pruebas de choque térmico.

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No.6 Zhangba First Street, High-Tech Area, Xi'an City, Shanxi Province, P.R. China 710065
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