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JESD22-A104 Cámara de Ciclado Térmico

Cámara de Ciclos Térmicos JESD22-A104 para Pruebas de Confiabilidad de Semiconductores

Las cámaras de ciclos térmicos JESD22-A104 de LIB Industry están diseñadas para pruebas de confiabilidad de dispositivos semiconductores, componentes electrónicos, ensamblajes de PCB y electrónica automotriz. Las cámaras de ciclos térmicos simulan un estrés térmico repetido para revelar fatiga en juntas de soldadura, grietas en encapsulados, delaminación y otros modos de falla antes de que los productos lleguen al mercado.

✔ 100% conforme con JESD22-A104 Condiciones A–M
✔ Velocidades de rampa de temperatura de hasta 10°C/min–15°C/min
✔ Fluctuación de temperatura ≤ ±0,5°C
✔ Uniformidad de temperatura ≤ ±2,0°C
✔ Rango de temperatura desde -70°C hasta +150°C

Las cámaras LIB, compatibles con los requisitos de prueba JESD22-A104, AEC-Q100 e IEC 60068-2-14, proporcionan un ciclo térmico preciso y repetible para la calificación y validación de confiabilidad de semiconductores.


Modelos estándar: TR5-100, TR5-225, TR5-500, TR5-800, TR5-1000 y más modelos personalizados.

Condiciones de prueba JESD22-A104 totalmente compatibles

Las cámaras de ciclado térmico de LIB Industry están diseñadas para soportar completamente los perfiles de temperatura especificados en JESD22-A104, permitiendo a los usuarios cambiar fácilmente entre diferentes condiciones de prueba según los requisitos del producto. Soporta las condiciones A–M de JESD22-A104.

Condición

Temperatura baja

Temperatura alta

Aplicaciones típicas

A

-55°C (+0/-10°C)

+85°C (+10/-0°C)

Electrónica de consumo, circuitos integrados de grado comercial

B

-55°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Componentes industriales, electrónica automotriz general

C

-65°C (+0/-10°C)

+150°C (+10/-0°C)

Aeroespacial, militar, dispositivos semiconductores de alta fiabilidad

G

-40°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Electrónica automotriz (AEC-Q100 / AEC-Q200)

H

-55°C (+0/-10°C)

+175°C (+10/-0°C)

Semiconductores de potencia de alta temperatura y dispositivos electrónicos avanzados

La cámara de ciclado de temperatura admite perfiles de ciclado programables con velocidades de rampa, tiempos de permanencia y recuentos de ciclos personalizables. Los parámetros de prueba se pueden configurar para cumplir con los requisitos de JESD22-A104 según la masa de la muestra, la carga térmica y los objetivos de calificación.


¿Por qué elegir LIB Industry para pruebas JESD22-A104?

Amplio rango de temperatura

Rangos de temperatura disponibles:

  • -20°C to +150°C

  • -40°C to +150°C

  • -70°C a +150°C Adecuado para todas las condiciones de prueba JESD22-A104.

Control preciso de temperatura

  • Fluctuación de temperatura: ±0,5 °C

  • Desviación de temperatura: ±2,0 °C

  • Distribución uniforme del flujo de aire Garantiza que cada muestra experimente el mismo estrés térmico durante las pruebas de larga duración.

Funcionamiento continuo fiable

Los programas de calificación de semiconductores a menudo requieren pruebas durante varias semanas.

Las cámaras LIB cuentan con:

  • Espacio de trabajo en acero inoxidable SUS304

  • Sistema de refrigeración industrial

  • Ventilador de circulación de larga duración

  • Capacidad de funcionamiento continuo Diseñado para pruebas de fiabilidad prolongadas sin interrupción.

Perfiles térmicos programables

El controlador con pantalla táctil permite a los usuarios crear perfiles de ciclado térmico personalizados que incluyen:

  • Control de velocidad de rampa

  • Control del tiempo de permanencia

  • Contador de ciclos

  • Funcionamiento automático

  • Registro de datos

temperature_cycle_chamber6_-_副本.jpg

Sala de pruebas en acero inoxidable

temperature_cycle_chamber8_-_副本.jpg

Sistema de refrigeración eficiente

temperature_cycle_chamber_-_副本.jpg

Puerto de acceso para cables sellado

temperature_cycle_chamber9_-_副本.jpg

Sistema de circulación de aire uniforme


Especificaciones de la cámara de ciclado de temperatura JESD22-A104

Modelo

TR5-100

TR5-225

TR5-500

TR5-800

TR5-1000

Dimensión interior (mm)

400*500*500

500*600*750

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000

Dimensión exterior (mm)

900*1050*1620

1000*1140*1870

1200*1340*2020

1300*1540*2120

1500*1540*2140

Volumen interior

100L

225L

500L

800L

1000 L

Carga térmica

1000 W

 

Rango de temperatura

A : -20℃ ~ +150 ℃

B : -40℃ ~ +150 ℃

C: -70℃ ~ +150 ℃

Fluctuación de temperatura

± 0,5 ℃

Desviación de temperatura

± 2,0 ℃

Velocidad de enfriamiento

10℃/min (15℃/min)

Velocidad de calentamiento

10℃/min (15℃/min)

Controlador

Controlador con pantalla táctil LCD a color programable, interfaz multilingüe, Ethernet, USB

Sistema de refrigeración

Sistema de refrigeración por compresión mecánica

Material exterior

Chapa de acero con recubrimiento protector

Material interior

acero inoxidable SUS304

Alimentación eléctrica

380V

Ruido máximo

65 dBA


Aplicaciones de ciclado de temperatura JESD22-A104

Las pruebas de ciclado de temperatura JESD22-A104 se utilizan ampliamente en las industrias de semiconductores, automoción y electrónica para evaluar la fiabilidad del producto bajo estrés térmico repetido.

Dispositivos semiconductores

Paquetes BGA, QFN, CSP, CI

Electrónica automotriz

ECU, ADAS, sensores, BMS

Electrónica de potencia

Dispositivos IGBT, MOSFET, SiC, convertidores de potencia

Sistemas electrónicos

Equipos de ensamblaje de PCB, equipos de comunicación, electrónica industrial y de consumo

Todo el equipo de pruebas de LIB está respaldado por unagarantía de 3 años y servicio técnico de por vidagarantizando fiabilidad a largo plazo y soporte posventa global.

Contacte a LIB Industry para la configuración adecuada para sus requisitos de JESD22-A104 orequisitos de pruebas de choque térmico.

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No.6 Zhangba First Street, High-Tech Area, Xi'an City, Shanxi Province, P.R. China 710065
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