Hoy en día, los productos electrónicos están en el corazón de casi todas las industrias: automotriz, aeroespacial, electrónica de consumo, telecomunicaciones, energía y dispositivos médicos. Se espera que estos productos funcionen de manera confiable bajo una amplia gama de condiciones ambientales, incluida la exposición a temperaturas extremas, transiciones térmicas rápidas y estrés térmico prolongado.
Para cumplir con estas expectativas, los fabricantes deben validar sus productos mediante rigurosas pruebas ambientales, donde elCámara de prueba de alta temperatura bajaJuega un papel central.
A diferencia de los sistemas mecánicos que pueden fallar de manera visible o audible, los sistemas electrónicos a menudo sufren una degradación silenciosa antes de fallar. Los circuitos internos, los microchips, las interconexiones y las juntas de soldadura dentro de los dispositivos pueden verse afectados significativamente por:
Expansión térmica y contracción:Que conduce a la fatiga y eventual agrietamiento de las juntas de soldadura o rastros de PCB.
Cambios de propiedad dieléctrica:Causando interferencia de señal o pérdida de función.
Riesgos de condensación:Especialmente cuando se mueve de ambientes fríos a cálidos, lo que provoca corrosión o cortocircuitos.
Deriva componente:La temperatura puede afectar los valores de resistencias, condensadores y sensores, lo que lleva a un comportamiento errático o mal funcionamiento.
Las temperaturas extremas se encuentran entre las amenazas ambientales más comunes que enfrentan los productos electrónicos durante su ciclo de vida, desde la fabricación y el envío hasta la implementación en entornos del mundo real.
Una cámara de prueba de alta baja temperatura está diseñada para simular condiciones ambientales extremas en un entorno de laboratorio controlado y repetible. Con controladores programables avanzados, los ingenieros pueden definir perfiles de temperatura específicos, tiempos de permanencia, velocidades de rampa y parámetros de prueba cíclicos para evaluar cómo responde un producto a lo largo del tiempo y a través de las condiciones.
Amplio Rango de temperatura: desde-70 °C,-40 °C,-20 °C a 150 °C, Cubriendo estándares internacionales comunes de prueba.
Control preciso: precisión de la temperatura± 0,5 °CY uniformidad dentro± 2,0 °CPara garantizar resultados fiables.
Ciclo programable: simular cambios de temperatura diurnos, ciclos de inicio y parada y condiciones de transporte.
Registro de datos: monitorear y registrar datos en tiempo real para el análisis posterior y la generación de informes.
La cámara de prueba de alta temperatura baja LIB incorpora sistemas de control PLC de pantalla táctil, interfaces de datos USB y Ethernet, y estructuras de aislamiento robustas para ofrecer un rendimiento estable, incluso durante las pruebas a largo plazo.
Para ilustrar mejor la importancia práctica de las pruebas de alta baja temperatura, examinemos un caso del mundo real: La validación térmica de un sistema de cámara retrovisora de grado automotriz.
Antecedentes del proyecto:
Un proveedor de automóviles requirió la verificación de una cámara de visión trasera basada en CMOS diseñada para operar en un amplio rango de temperatura, desde los duros inviernos del norte hasta el calor del desierto. El sistema incluía un módulo de cámara, carcasa protectora, PCB y lente.
Rango de temperatura:-40 °C a 85 °C
Velocidad de rampa:3 °C/min
Recuento de ciclo:100 ciclos durante 10 días
Evaluar la integridad mecánica de la lente y la carcasa durante la expansión y contracción.
Observe la degradación de la calidad de imagen a temperaturas extremas.
Compruebe si hay condensación interna o nebulización después de cambios rápidos de temperatura.
Monitoree la estabilidad de la señal eléctrica desde el sensor de imagen y la placa de circuito.
Cumple con las normas de automoción ISO 16750-4 y las normas AEC-Q100
La prueba revelóDistorsión intermitente de la imagen por debajo de-30 °C debido a la contracción de la lente y la desalineación del PIN del conector. El problema se resolvió con cambios de selección de materiales y se volvió a probar con éxito. Sin este paso de validación, el defecto habría provocado una falla generalizada en climas fríos y posibles retiradas de productos.
Las baterías de iones de litio utilizadas en teléfonos inteligentes, drones o vehículos eléctricos son muy sensibles a la temperatura. Las cámaras LIB se utilizan para simular la carga, la descarga y los Estados inactivos tanto en frío (-20 ° C) como en calor (60 ° C) para evaluar los riesgos de fuga térmica y el rendimiento del envejecimiento. LIB también ofrece servicios especializadosCámaras de prueba de batería, Equipado con un sistema a prueba de explosiones.
Los teléfonos móviles, tabletas y dispositivos portátiles a menudo se transportan o utilizan en condiciones climáticas extremas. Las pruebas de ciclo de temperatura garantizan que las pantallas no se agrieten, los adhesivos no se deslaminen y los sensores táctiles funcionan correctamente después de una exposición repetida a ambientes fríos y calientes.
La electrónica de grado militar debe funcionar desde-55 ° C en tierra hasta 85 ° C en vuelo. Las cámaras LIB admiten pruebas MIL-STD-810H y compatibles con RTCA DO-160, simulando escenarios térmicos de baja presión a gran altitud combinados con vibración.
La electrónica médica implantable o portátil debe someterse a pruebas de temperatura para garantizar la estabilidad de las lecturas de diagnóstico o el rendimiento de administración de fármacos en el cuerpo humano o en diferentes condiciones ambientales.
Las pruebas de alta temperatura baja suelen ser una parte obligatoria del cumplimiento normativo y la certificación. Las cámaras de LIB admiten una amplia gama de estándares de prueba internacionales, que incluyen:
IEC 60068-2-1 / IEC 60068-2-2: Pruebas ambientales para resistencia a altas y bajas temperaturas
MIL-STD-810H: estándar militar de EE. UU. Para pruebas ambientales de equipos
ISO 16750-4: Vehículos de carretera-Condiciones ambientales y pruebas para equipos eléctricos y electrónicos
JEDEC JESD22-A104: Ciclo de temperatura para dispositivos semiconductores
Las cámaras de prueba de alta temperatura baja LIB están diseñadas para cumplir con estos estándares de manera confiable y repetida, lo que las hace adecuadas tanto para laboratorios de prueba de certificación como para departamentos de QA internos.
Como fabricante líder de cámaras de prueba ambiental, LIB aporta más de 16 años de experiencia, ingeniería de precisión y un enfoque centrado en el cliente para cada proyecto
Rendimiento confiable
Las cámaras de prueba ambiental LIB se construyen con sistemas de refrigeración de alta eficiencia, interiores SUS304 resistentes a la corrosión y componentes de grado industrial para una larga vida útil.
Soluciones a medida
Desde pequeñas cámaras de sobremesa para laboratorios de I + D hasta cámaras de prueba sin cita previa para ensamblajes completos, LIB ofrece tamaños, rangos de temperatura y sistemas de control personalizables para cumplir con cualquier requisito de prueba.
Confianza global
Los fabricantes de productos electrónicos, fabricantes de equipos de automoción, universidades, instituciones de investigación y empresas aeroespaciales acro confían en los equipos de prueba LIBSS más de 60 países.
Apoyo dedicado
Proporcionamos no solo máquinas, sino servicio de extremo a extremo: Consultoría de prueba, diseño de cámara, instalación, soporte de monitoreo remoto y servicios de calibración.
Los productos electrónicos enfrentan una amplia gama de desafíos ambientales en su ciclo de vida. Sin una validación completa en condiciones de alta y baja temperatura, incluso la tecnología más avanzada puede fallar inesperadamente en el campo. Una cámara de prueba de alta temperatura baja garantiza que estos productos puedan sobrevivir, operar y prosperar en condiciones del mundo real.
Póngase en contacto con nosotros hoy para discutir sus necesidades de pruebas de temperatura o solicitar un presupuesto personalizadoInquiry@libtestchamber.com...
English
русский
français
العربية
Deutsch
Español
한국어
italiano
tiếng việt
ไทย
Indonesia
